年別の研究成果
年別の研究成果
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検索結果
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1990
Measurement of three dimensional stress and modeling of stress induced migration failure in aluminum interconnects
Tezaki, A., Mineta, T., Egawa, H. & Noguchi, T., 1990, In: Annual Proceedings - Reliability Physics (Symposium). p. 221-229 9 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 会議記事 › 査読
84 被引用数 (Scopus) -
Measurements of the inverse Smith-Purcell effect at submillimeter wavelengths
Bae, J., Shirai, H., Nishida, T., Nozokido, T., Furuya, K. & Mizuno, K., 1990/12, In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting. p. 723-726 4 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 会議記事 › 査読
1 被引用数 (Scopus) -
On design of multiple-valued static random-access-memory
Ishizuka, O., Tang, Z. & Matsumoto, H., 1990, In: Proceedings of The International Symposium on Multiple-Valued Logic. p. 11-17 7 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 会議記事 › 査読
1 被引用数 (Scopus) -
1989
Distribution of ionic polymers and particles in solutions
Ise, N., Matsuoka, H. & Ito, K., 1989/09, In: American Chemical Society, Polymer Preprints, Division of Polymer Chemistry. 30, 2, p. 333-334 2 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 会議記事 › 査読
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1988
The Inverse Smith-Purcell Effect at Submillimeter Wavelangths
Bae, J., Furuya, K., Shirai, H., Nishida, T., Nozokido, T. & Mizuno, K., 1988, In: Optics InfoBase Conference Papers. PD25.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 会議記事 › 査読
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1987
APPLICATION OF ION-IMPLANTATION METHOD TO AMORPHOUS SILICON THIN-FILM TRANSISTORS.
Oda, S., Okada, H., Ono, A. & Matsumura, M., 1987, In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting. p. 444-447 4 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 会議記事 › 査読
1 被引用数 (Scopus) -
FIRST OBSERVATION OF THE INVERSE SMITH-PURCELL EFFECT.
Pae, J., Furuya, K., Shirai, H., Nozokido, T. & Mizuno, K., 1987, In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting. p. 307-310 4 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 会議記事 › 査読
3 被引用数 (Scopus) -
HIGH-SPEED STATIC FREQUENCY DIVIDER EMPLOYING N** plus -GE GATE ALGAAS/GAAS MISFETS.
Mizutani, T., Hirano, M., Fujita, S. & Maezawa, K., 1987, In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting. p. 603-606 4 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 会議記事 › 査読
7 被引用数 (Scopus)